高低溫沖擊測(cè)試箱用于電子電器元件、通信元件、汽車零部件、金屬、材料、塑料等行業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷和聚合物材料，測(cè)試材料的耐高溫和低溫重復(fù)性，以及產(chǎn)品在熱膨脹和冷收縮過程中的變化或物理損壞，可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密IC到重型機(jī)械部件，它是各個(gè)領(lǐng)域產(chǎn)品測(cè)試的測(cè)試箱。
 

　　高低溫沖擊測(cè)試箱的使用方法：
 

　　1、預(yù)處理：將試樣置于正常試驗(yàn)大氣條件下，直至溫度穩(wěn)定。
 

　　2、初始試驗(yàn)：將試驗(yàn)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行比較，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗(yàn)箱。
 

　　3、試驗(yàn)：
 

　　(1)應(yīng)按照標(biāo)準(zhǔn)要求將試樣放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)的溫度升至規(guī)定點(diǎn)，并保持一定時(shí)間，直到試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度，以較長者為準(zhǔn)。
 

　　(2)在高溫階段結(jié)束時(shí)，在5分鐘內(nèi)將試樣轉(zhuǎn)移到已調(diào)至-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)中，并保持1小時(shí)或直到試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度，以較長者為準(zhǔn)。
 

　　(3)低溫階段結(jié)束后，在5分鐘內(nèi)將試樣轉(zhuǎn)移到已調(diào)至70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)中，并保持1小時(shí)或直至試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度，以較長者為準(zhǔn)。
 

　　(4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法，完成三個(gè)循環(huán)。根據(jù)樣本大小和空間大小，時(shí)間上可能會(huì)有輕微錯(cuò)誤。
 

　　4、恢復(fù)：試樣從試驗(yàn)箱中取出后，應(yīng)在正常試驗(yàn)大氣條件下回收，直到試樣達(dá)到穩(wěn)定溫度。
 

　　5、最終測(cè)試：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的損傷程度和其他方法評(píng)估測(cè)試結(jié)果。